掃描電子顯微鏡（SEM）
發布時間:2022-03-14 20:12:41 發布人: 沐鸣
●參數指標🧜♀️🥟：
儀器型號：日本日立S-4800
工作電壓👰🏼♂️：0.5 ~ 30kV
放大倍數：×20～×800,000萬倍
最小分辨率：1nm（15kV）🧑🎨、1.4nm（1kV）
電製冷能譜儀元素分析範圍：Be4-U92
●技術特點：
采用的E×B技術，可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號⛹🏼♀️♦️。配有X-射線能譜儀，可在形貌觀察的同時進行樣品成分分析。
●應用範圍：
應用於材料科學（金屬材料、非金屬材料🤐、納米材料）🏌🏿、生物學、醫學、地質勘探、工業生產中的產品質量鑒定及生產工藝控製等。例如在材料科學上主要的應用有工程材料斷口分析及微區成分分析、各種鍍膜表面形貌分析及層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析。
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